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Zeiss Gemini300/3View 连续切片场发射扫描电子显微镜
Zeiss Gemini300/3View 连续切片场发射扫描电子显微镜
仪器编号
MC-EM3
规格
生产厂家
Zeiss
型号
GeminiSEM 300 3view
制造国家
德国
分类号
010102
放置地点
云谷校区E8-B124
出厂日期
2019-01-19
购置日期
2019-01-19
入网日期
2020-03-09

主要规格及技术指标

"基本规格:Zeiss GeminiSEM 300 + Ganta 3view
分辨率:0.8nm @15 kV;1.4nm @1kV
高端肖特基热场发射扫描电子显微镜,无交叉电子束镜筒设计,具有超高分辨的成像能力和优秀的低电压性能,稳定性优于0.2%/h
加速电压:0.02-30kV(无需减速模式实现)
探针电流:3pA-100nA
存储分辨率:最高达32k×24k像素
放大倍:12–2,000,000×
样品仓尺寸:330mm(D),270mm(H)
标配探测器:镜筒内Inlens二次电子探测器;样品室内的Everhart Thornley二次电子探测器
低真空范围: 10-500Pa (GeminiSEM300 VP可用)
样品室: 330 mm(φ),270 mm(h)
样品台:5轴优中心全自动
X=130mm
Y=130mm
Z=50 mm
T=-3o-70o
R=360o 连续
系统控制:基于Windows 7的SmartSEM操作系统,可选鼠标、键盘、控制面板控制
OnPoint™ 背散射探测器可在低 kV 条件下实现高速成像,且不会降低图像质量
FCC:局部电荷补偿器,在保持图像质量的前提下减少样品荷电效应。"

主要功能及特色

"• 切面成像
3View® 是放置在扫描电镜样品仓里的超薄切片机. 块状样品则放置在正对电镜镜筒下方的样品台上。在上表面被扫描成像之后,样品会上升很小的一段距离(最小可达15 nm)。此时超薄切片机进刀,削掉样品顶端的薄薄一层,之后退刀,新的表面再次被成像。以这种方式,样品反复不断地被切削,成像,而得到数以千计的切面图片,从而进行完整的三维重构。
• GeminiSEM 3View®可以带给你优异的低电压成像效果,以及灵活的探测手段。
• 现在你可以给你的GeminiSEM升级局部电荷补偿器,消除荷电效应的影响。
• 超高的系统稳定性,即使长时间运行也完全不需要人工干预。
• 大成像视野
• 快速成像"

主要附件及配置

公告名称 公告内容 发布日期