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低温探针台电学测量系统(半导体参数分析/介电/铁电/光电等)
低温探针台电学测量系统(半导体参数分析/介电/铁电/光电等)
仪器编号
LHA18120004
规格
生产厂家
Lake Shore Cryotronics
型号
CRX-4K
制造国家
USA
分类号
040101
放置地点
云谷校区学术环E10-138
出厂日期
2018-07-16
购置日期
2018-07-16
入网日期
2019-09-04

主要规格及技术指标

温度范围:基础温度5.5K,温控范围6-350K(四个臂)
制冷时间:室温到10K以内1.5h,从最低温到室温1h,
温度稳定性:±50mK(<10K),±10mK(10K—250K),±20mK(>250 K)
加热器温度控制:样品台100W,二级冷头50W,一级冷头200W,监视探针臂温度
系统震动指标:样品台振幅(X, Y, Z轴)<1μm
探针臂行程及分辨率:X轴51 mm(2 inch),20 μm分辨率;Y轴25mm(1 inch),10μm分辨率;Z轴18 mm(0.7 inch),10 μm分辨率
系统真空指标:制冷前抽到10-3 Torr,需要20分钟;腔体体积8.7升;r
显微镜光学分辨率:4 μm

主要功能及特色

美国 Lake Shore CRX-4K探针台是不需要低温制冷剂的探针台,它可以对器件进行非破坏性的测试,器件的最大尺寸可达到51mm(2inch)。它可以对材料或器件的电学特性测量、光电特性测量、参数测量、high Z测量、DC测量、RF测量和微波特性测量提供一个测试平台。一般来讲,纳米电子材料、量子线、量子点和半导体材料是在CRX- 4K进行测量的比较典型的材料。系统的探针、测试电缆、样品架都有多种类型可供选择,从而满足不同用户的需要。

主要附件及配置

使用Sumitiomo 公司的4K闭循环制冷机,不需要消耗液氦和液氮,CRX- 4K的温度变化范围4.5K到350K。每一个低温样品级都安装温度计和加热器,可以提供快速的热响应,快速迅速回到室温,样品更换非常方便。热辐射屏大大降低了黑体辐射,提高了制冷效率。系统采用了精心的设计来减低振动,采用各种减震装置阻止机械振动影响测量的性能。在全量程温度范围内,样品的振动小于1um ( X, Y, Z轴)。安装了4个可以进行微调整的探针臂,每个探针臂上的探针都可以进行3维方向上的定位。微波探头可以±5°旋转,使样品可以更好的和探针匹配。DC探针低噪音,低漏电流,热接触好。RF探针可以频率到67GHz.,光线可以从窗口入射,也可以通过光纤导入。专用的探针根据尺寸和材料不同,分为多种类型,探针减少了热质量,优化了和器件的电接触性。每个探针都直接和冷头进行导热,这样就减小了探针对样品的热传递。

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